ADC芯片性能測試邏輯和軟件平臺(tái)
ADC芯片性能測試邏輯和軟件平臺(tái)
一、系統(tǒng)描述
本項(xiàng)目主要開發(fā)一款基于XilinxML605以及FMC擴(kuò)展ADC采集板架構(gòu)的ADC芯片測試平臺(tái),,任務(wù)包括邏輯開發(fā)以及相關(guān)軟件開發(fā)。
邏輯部分包括以下部分:
1.基于XILINXML605開發(fā)板,。
2.支持?jǐn)U展FMC子板,,支持16bit250Msps以及14bit400MspsADC輸入。
3.ADC輸入接口支持?jǐn)?shù)據(jù)/時(shí)鐘相位動(dòng)態(tài)自適應(yīng)調(diào)整,。
4.支持64位寬DDR3控制器,,數(shù)據(jù)率為DDR31066MHz-1000MHz。
5.支持PCIE1.0x8,,支持PCIeDMA操作,,PCIex8模式下,DMA傳輸速率為1000MB/s左右,。
6.數(shù)據(jù)傳輸模式支持?jǐn)?shù)據(jù)長度模式可以配置,。
7.通過SPI配置周邊器件,支持8位,、16位,、24位及32位協(xié)議,支持上沿和下沿選擇,。
二,、邏輯系統(tǒng)框圖
三、關(guān)于模擬前端接口邏輯:
模擬前端接口同外部模擬端口連接,,接口模塊分為phy和控制邏輯部分:
ADC接口隨路時(shí)鐘支持動(dòng)態(tài)相位調(diào)整,,系統(tǒng)初始化或溫度變化時(shí),會(huì)采用自適應(yīng)的方法動(dòng)態(tài)調(diào)整隨路時(shí)鐘和ADC數(shù)據(jù)的相位關(guān)系,,保證數(shù)據(jù)采集的正確性,。結(jié)構(gòu)如下:
ADC通道分別設(shè)置每個(gè)通道工作或不工作,狀態(tài)可讀:通道當(dāng)前激活狀態(tài)以及ADC數(shù)據(jù)是否溢出,。
128位寬數(shù)據(jù)輸出下每個(gè)采樣點(diǎn)10-16位寬格式
l單通道數(shù)據(jù)格式:
A0A1A2A3A4A5A6A7
A8A9A10A11A12A13A14A15
........
四,、關(guān)于DDR3SDRAM
MemoryController核心模塊采用MIG。模塊對(duì)接TXFIFO和RXFIFO,,采用多通道形式,,通過內(nèi)部高速總線互聯(lián),總線具有仲裁功能,;支持ADC通道和PCIEDMA通道同時(shí)申請讀寫DDR3存儲(chǔ)設(shè)備,。
其組成形式如下圖所示:
五,、關(guān)于采集模式:
采集模式支持標(biāo)準(zhǔn)工作模式:
標(biāo)準(zhǔn)工作模式設(shè)置:
設(shè)置單次采集長度Mem-size;
設(shè)置觸發(fā)Post-trigger點(diǎn)數(shù),;
Pre-trigger=mem-size-Post-trigger
采集過程如下所示:
六,、關(guān)于觸發(fā)模式
軟件觸發(fā):
通過PC及控制軟件產(chǎn)生觸發(fā)信號(hào)。
七,、外部控制接口
外部控制接口/通信接口主要包括以下部分:
1.SPIMaster
2.GPIO/DIO
八,、PCIE總線部分
PCIE控制器主要分為兩部分:
1.PCIEendpoint,采用XilinxFPGA中的硬核完成,。
2.PCIEDMA部分,,需要開發(fā),完成符合項(xiàng)目需求的DMA控制器邏輯單元,。
為了擴(kuò)展需要PCIE模塊支持1x,、4x和8x傳輸,PCIE模塊結(jié)構(gòu)如下圖:
九,、關(guān)于系統(tǒng)軟件
同邏輯配套的系統(tǒng)軟件功能如下:
1.支持Windows32bit/Windows64bit的設(shè)備驅(qū)動(dòng),。
2.支持LabView。
3.提供CommonLibrary支持基本操作,。
4.提供TextbasedAppication例程,,支持VisualC++。
整體結(jié)構(gòu)如下:
2.驅(qū)動(dòng)程序函數(shù)定義:
lhOpen()openHWdevice
lhClosecloseopeneddevice
lSetParam_i32setsoftwareregister(32bit)
lSetParam_i64setsoftwareregister(64bit)
lGetParam_i32getsoftwareregister(32bit)
lGetParam_i64getsoftwareregister(64bit)
lDefTransferdefineabufferforafollowingdatatransfer
lGetErrorInfothefunctionreturnscompleteerror
十,、ADC性能測試:
采集控制設(shè)置:
l采集長度
l采樣率
l開始/停止
ADC動(dòng)態(tài)指標(biāo)測試如下圖:
ADC靜態(tài)指標(biāo)測試如下圖: